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遠場測試技術雖然早成熟，但是由于其對大測試場地和電磁環境的特殊要求，測試非常不方便，人們一方面用緊縮場產生平面波來模擬無線長度的場地，另一方面則是用近場測試代替遠場測試。

近場測量的原理是在一個面上采集待測天線近場數據，然后通過近遠場變換算法，得到待測天線遠場輻射特性。根據取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術，平面近場測量使用為普遍。近場測量的原始數據需要包含幅度相位信息，儀器設備主要是矢量網絡分析儀，或測量接收機、信號源等組成。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

在反射測試中之所以需要定向耦合器，是利用定向耦合的定向傳輸特性。當把信號由定向耦合器輸入端接入時，耦合端有耦合輸出，此時稱為正向傳輸，定向耦合器相當于不均分功率分配器。在正向傳輸中，耦合器耦合輸出與輸入功率比值比定義為耦合度。

對于理想定向耦合器，當信號由耦合器輸出端接入反向工作時，耦合端沒有輸出。這是因為輸入功率被耦合器內部的負載和主臂終端外接負載所吸收，這就是定向耦合器的單向傳輸性。實際定向耦合器反向工作時，耦合端會有泄露輸出， 反向工作時耦合端輸出與輸入信號功率比定義為定向耦合器隔離度。

無論在研發還是在生產制造中，工程師們在測試射頻元件時都面臨許多重大挑戰。在研發過程中，更快并以較少的重復工作來解決設計難題至關重要。生產制造過程中，需要在保持精度和產出率的同時，縮短測試時間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網絡分析儀。由于PNA-X的先進體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網絡分析儀相關的傳統散射參數（S參數）的各種測量進行配置。一些內置組件（如第二個信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線性特性進行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。